Měřidlo tloušťky vrstvy TE 1250-0,1FN. Sauter | Top produkt

Popis

Měřidlo tloušťky vrstvy F/N

Vlastnosti: S externí měřicí hlavicí pro snadný přístup k těžko přístupným měřicím bodům. Datový výstup RS232. Dodává se s nulovou deskou, nastavovacími fóliemi a 4 mikrotužkovými bateriemi AAA/LR03, 1,5 V, v kufříku. Rozsah měření: Čtení: -0 až 100 µm0,1 µm -100 až 1250 µm1 µm Nejistota měření (po kalibraci): -Standard: 1 % nebo ± 2,5 µm -Přesnost posunu: 1 % nebo ± 1 µm Funkce: Zapnutí a automatické vypnutí, offset accus – pomocí této funkce lze měřidlo přesně nastavit na konkrétní měřicí rozsah pomocí dvoubodové kalibrace a dosáhnout tak vyšší přesnosti 1 % (nebo méně) měřené hodnoty.

Parametry